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Ya-Nan Yang Yin-Ning Zhou Bo Ouyang Yi-Yang Wu Xi-Bao Zhang Zheng-Hong Luo 《American Institute of Chemical Engineers》2022,68(5):e17645
The computational fluid dynamics (CFD) and kinetic-based moment methods coupled approach is adopted to simulate the bulk copolymerization of styrene–acrylonitrile (SAN) in a stirred tank reactor. Numerical simulations are carried out to investigate the impacts of impeller speed, monomer ratio, initiator ratio, and initial reaction temperature on the copolymerization process and product properties. Particularly, the Chaos theory is selected as a criterion for evaluating the occurrence of the thermal runaway. The Flory's and Stockmayer's distributions are employed to calculate chain length distribution and copolymer composition distribution of copolymer. The simulation results highlight that the appearance of thermal runaway can be postponed by properly increasing the rotation speed, decreasing the initiator loadings, initial acrylonitrile contents and initial reactor temperature. Furthermore, significant differences exist in the product properties that predicted by the ideal and non-ideal models, which demonstrates that the temperature heterogeneity plays a crucial role in SAN copolymerization. This study could offer references for the safe operation and design of polymerization processes. 相似文献
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在国内,火花放电原子发射光谱分析广泛使用类型标准化进行方法校正。在国外,标准和文献中鲜见使用此方法的相关论述。类型标准化主要采用平移校正和转动校正两种方式,哪种方式更加合理也鲜见报道。国外设备类型标准化的默认设置优先采用转动校正方式,相关国内标准对最优校正方式的规定尚不明确,此默认设置的合理性有待探讨。实验选用低合金钢20CrNi2Mo、R407标准样品和不锈钢317L、0Cr18Ni9标准样品,引用国内相关标准,以正确度临界差为评判依据,模拟类型标准化样品和待测样品“十分接近”和“接近”两种情况下平移校正和转动校正的数据正确度。经数据统计分析,平移校正分析结果均满足要求,转动校正结果在“接近”情况下部分元素不满足要求。结合相关国家标准中元素含量范围和精密度数据进行分析,通过计算允许最大偏倚量并制作曲线图方式展开分析,得出如下结论:在满足文中类型标准化控制要点前提下,分析设置更适合于采用平移校正方式。 相似文献
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水冷陶瓷增殖剂(WCCB)包层作为中国聚变工程试验堆(CFETR)候选包层之一,承担着氚增殖、核热提取、屏蔽等重要涉核功能,其中子学设计的可靠性直接影响CFETR氚自持目标的实现。为验证中子学设计工具,即MCNP和FNEDL3.0数据库,在WCCB包层中子学设计中的可靠性,基于研制出的WCCB包层模块,在DT中子环境下开展中子学实验,对以产氚率(TPR)为代表的中子学参数进行了模拟值(C)和实验值(E)对比分析。结果表明,模块中轴线位置处TPR的C/E为0.97?1.08,而模块边缘位置处TPR的C/E为0.65?0.82;模块钛酸锂层边缘区197Au(n,γ)198Au反应率的C/E为0.72?0.90,表明模块边缘区存在非期望的散射中子,导致该区TPR模拟值和实验值偏离较大。 相似文献
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